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PARISS高光谱影像分析系统亮相BCEIA及二军大展示会 -- 时间:2013-1-30 11:24:12

 

这次连续参加了在北京召开的分析测试学术报告会(BECIA)和在上海二军大基础医学部举办的生命科学与医学新技术系列讲座及展示会,展会期间正式亮相了公司代理的美国PARISS高光谱显微图像分析系统,同时在北京BECIA会议上作了“高光谱影像分析系统在快速检测分析领域运用”的技术讲座。


这次的北京和上海的展会参观者人数之多,展会举办品质之高都出乎我们的意料。展会期间不断地有各个领域的科研工作者和一些同行业者前来询问高光谱影像分析技术的具体工作原理和实际应用,我们的技术人员也当场演示了该系统的工作情况并做出详细讲解,得到了许多业内人士的认可。


展会结束后,仍有不少研究机构的老师对这个技术希望能够有进一步的了解,纷纷邀请前去做技术讲座和样机演示体验,进行更深入的交流。在此,我们十分感谢广大老师和客户的支持和认可,有公司也限于人力、地域等一些因素不能全部满足客户们的要求,对此我们表示深深的歉意。但随着公司进一步的发展,这些问题都会逐步得到解决,我们也将努力把PARISS和高光谱影像分析技术带给更多的科研工作者,为国内科研工作添砖加瓦。

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